应聘职位:

        

何辉的个人简历 应届毕业生 , 编号:DS007514) 最后更新简历时间:2018/4/16 8:19:50
基本信息
姓    名: 何辉 性    别:
婚姻状况: 未婚 出生日期: 1979年6月29日
民    族:

年    龄:

39岁
户    籍: 河南省睢县

身    高:

cm

求职意向
工作类型: 全职 希望地区: 河南   深圳   武汉
最快到岗: 2010年12月1日 岗位类别: 待遇要求: 面议
其它要求:
专业相关的基础研究或应用研发工作
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教育背景
最高学历: 博士 毕业院校:中科院固体物理所 所学专业:材料物理与化学

X年X月至X年X月 学校/培训机构名称 专业/科目名称 获得何种证书等

2008.3~2010.12博士 中科院固体物理所 材料物理与化学
2003.9~2006.7硕士 武汉大学物理科学与技术学院 材料物理与化学
1998.9~2002.7本科 郑州大学材料科学与工程学院 材料科学与工程
工作经历
工作年限:2 年
X年X月至X年X月 公司名称/职位/主要工作描述/工作业绩/离职原因等

2006.7~2008.02  深圳华为技术有限公司  工艺研发工程师
主要从事电子组装工艺可靠性及失效分析方面的研发工作。试用期间,电子组装工艺相关课程得到系统培训并通过部门考核,在工作导师指导下学习了单板失效分析方法及仪器操作。
在转正后的独立工作中,除完成主管安排任务和深入学习业务知识外,在失效分析过程中勤于思考并拓新分析方法,取得许多创新性的成果,不断拓展工艺可靠性组的失效分析业务。

技能专长
英语水平:  熟练 英语级别:六级 外语语种二: 水平:
计算机能力:熟练
技能描述

    掌握材料学科的基础理论和专业技术知识;了解纳米材料科学领域的前沿动态;熟悉真空薄膜设备并有维修经验;具有强烈的科研创新意识和较高的实验技能。
博士学位课题:3D贵金属SERS基底的合成及活性研究
硕士学位课题:定向ZnO纳米杆阵列的研制及机理分析

自我评价

    工作阶段:被评为月度之星;公司个人突出奖。
本科、硕士阶段:获多次奖学金;成绩排名均在系前三分之一以内,部分课程为系最高分;全国大学生英语竞赛三等奖等。

求职信

2008.2~至今 从事博士课题研究
利用实验室现有条件,构筑高效的SERS衬底,研究其SERS活性,并用于环境持久性有机污染物等的检测。已取得较好的科研成果,现已发表第一作者SCI论文3篇,另有多篇论文在准备和投稿中:
1. H. He (何辉), W. P. Cai, Y. X. Lin, B. S. Chen, Au nanochain-built 3D netlike porous films based on laser ablation in water and electrophoretic deposition, Chem. Commun., 2010, 46, 7223–7225(IF: 5.504, 2009)
2. H. He (何辉), W. P. Cai, Y. X. Lin, B. S. Chen, Surface decoration of ZnO nanorod arrays by electrophoresis in the Au colloidal solution prepared by laser ablation in water, Langmuir 2010, 26 (11), 8925–8932. (IF: 3.898, 2009)
3. H. He (何辉), W. P. Cai, Y. X. Lin, Z. F. Dai, Ag porous nanotube built 3D films with structural tunability based on the nanofiber template-plasma etching strategy, Langmuir, accept.(IF: 3.898, 2009)
4. 何 辉,李金钗,廖 蕾,卢红兵,王多发,ZnO缓冲层上定向ZnO纳米杆阵列的制备,武汉大学学报理学版,2006.6.(硕士期间发表)
2006.7~2008.02  深圳华为技术有限公司  工艺研发工程师
主要从事电子组装工艺可靠性及失效分析方面的研发工作。试用期间,电子组装工艺相关课程得到系统培训并通过部门考核,在工作导师指导下学习了单板失效分析方法及仪器操作。
在转正后的独立工作中,除完成主管安排任务和深入学习业务知识外,在失效分析过程中勤于思考并拓新分析方法,取得许多创新性的成果,不断拓展工艺可靠性组的失效分析业务。本人也得到各级部门及主管好评,在多次季度考评中名次靠前。
现列举本人负责完成的三个代表大案:
1. PCB过孔孔口开路案。此案全部报废了六十几块即将发往海外的单板,直接挽回经济损失至少几百万。在分析方法上有如下创新:a.首次成功的将可靠性实验方法用于失效分析;b.更改了过孔开路对按压不敏感的常识;c.更改了过孔开路加热则导通的说法,因该案例失效现象与此相反;d.拓展了Xray在过孔观察上的应用等。
2. 用户板1206陶瓷电容烧毁案。此案例困扰产品线半年多,一直未找到原因,失效现象是并排三个电容右边两个的左上角有熔洞,在生产电测、老化实验、市场返回均出现多块失效。当时,相关多个部门投入分析,认为是热应力,但我综合考虑后提出是机械应力。在查找资料后认为是PCB向上的弯曲应力,同时到生产线调研,找到隐患处,并联合运用仿真、强化实验等手段重现,结果都基本符合,最后提出改进方案,问题得到解决。此案例受部门领导及生产线表扬,被誉为“经典案例”。
3. 市场返回1206陶瓷电容裂纹案。陆续从市场返回多块单板,失效现象均是1206陶瓷电容表面有裂纹。器件、整机等相关部门投入数月分析,但未找到原因。接手该案例后,除配合其它部门分析外,分析后提出过波峰焊造成的可能性大。在分析方法上有如下创新:a.首次建立了万用表判断陶瓷电容失效的方法;b.独自利用强化实验—浸锡实验进行探索,取得了系列成果,丰富了陶瓷电容失效分析方法,并受到器件部门领导的好评。

2002.7~2003.09  新华社河南分社   业务员

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